• Institut des matériaux de Paris-Centre

Plateforme de microscopie électronique en transmission

  • Microscopie électronique en transmission

La plateforme compte trois microscopes électroniques à transmission dont les potentialités sont complémentaires, un microscope 100 kV JEOL 1011 et deux microscopes 200 kV Jeol 2011 et Jeol 2100 Plus, munis tous les deux de pointes d’émission en LaB6.

Notre plateforme accueille les laboratoires de notre fédération ainsi que des laboratoires internes ou extérieurs à l’Université, et des PME, dont les thèmes de recherche impliquent un large éventail de nanomatériaux : nanomatériaux, matériaux hybrides organiques‐inorganiques, métaux, oxydes, polymères.

Présentation

  • Analyses rapides pour accéder aux morphologies et tailles des nano-objets (Jeol 1011)
  • Microscopie électronique haute résolution ou HRTEM (résolution ponctuelle : 1.8A, résolution en franges : 1.4 A : (Jeol 2011 et Jeol 2100 Plus)
  • Diffraction électronique
  • Mode balayage en transmission (STEM) avec un détecteur en champ sombre annulaire (HAADF). Images en Z-contrast
  • Analyse chimique par spectroscopie en dispersion d’énergie (X-EDS)
  • Cartographie chimiques STEM/X-EDS (Jeol 2100 Plus)
  • Microscopie électronique en perte d’énergie : Imagerie filtrée (EFTEM) et spectroscopie EELS (Jeol 2100 Plus)

Expertise en caractérisation des matériaux aux échelles microscopiques et nanométriques :

  • Morphologie et taille des nano-objets
  • Structure cristalline par la diffraction électronique et imagerie haute résolution
  • Composition chimique locale à l'échelle nanométrique (X-EDS, EELS, EFTEM)

Ouvert aux établissements privés ou publics / Devis sur demande.

Responsable

Dalil Brouri

Institut des Matériaux de Paris-Centre - 4 place Jussieu
75252 Cedex 05
Paris
Sorbonne Université - Faculté des Sciences et Ingénierie
Campus Pierre et Marie Curie
4 place Jussieu 75005 Paris