• Institut des nanosciences de Paris

Plateforme de diffraction des rayons X de l'INSP

  • Diffraction des rayons X à haute résolution

Diffractomètre 4 cercles Panalytical X’Pert MRD.
Diffractomètre 5 cercles Rigaku SmartLab à anode tournante.

Présentation

Une plateforme labellisée de Sorbonne Université.

Expertise :

Analyse structurale de films minces et ultraminces :

  • diffraction à haute résolution (theta/2theta, rocking curves, cartographie du réseau réciproque)
  • diffraction in-plane sous incidence rasante
  • réflectivité (épaisseur, rugosité et densité du film)

Etude de films texturés : 

  • figures de pôles, in-plane pole figures

Etude d’échantillons ultraminces de poudres :

  • diffraction in-plane mise à profit pour des échantillons ultraminces et polycristallins
  • Étudier vos besoins, adapter la configuration de mesure et effectuer les acquisitions
  • Produire les résultats sur mesure : des données brutes à leur traitement et interprétation pour des rapports finalisés
  • Garantir la confidentialité des données et des résultats
  • Acquisition de données de diffraction X

Ouvert aux établissements privés ou publics / Devis sur demande.

Responsable

Yunlin Zheng

INSP - Tour 22-32, pièce 413 - 4 place Jussieu
75252 Cedex 05
Paris
Sorbonne Université - Faculté des Sciences et Ingénierie
Campus Pierre et Marie Curie
4 place Jussieu 75005 Paris
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